TOF-SIMS

Die Business Line Automotive ist für TOF-SIMS-Analysen akkreditiert. Seit mehreren Jahren wenden wir diese Technik gemeinsam mit einem kompetenten Partner erfolgreich bei der Lösung technischer Problemstellungen aus der Industrie an. An unterschiedlichsten Materialien, Medien und Produkten haben wir in den letzten Jahren mehrere tausend TOF-SIMS-Analysen durchgeführt und meist in Kombination mit anderen Prüf- und Analyseverfahren hochkomplexe Probleme gelöst.

Die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) dient zum hochempfindlichen Nachweis aller Elemente sowie zur eindeutigen Identifizierung anorganischer und insbesondere organischer Verbindungen an Oberflächen beliebiger Materialien.

Nach speziellen Präparationen kann auch im Festkörpervolumen sowie von Flüssigkeiten, Fetten, Gelen, Pasten etc. die chemische Zusammensetzung ermittelt werden. Die Nachweisgrenze reicht herunter bis ca. 10^-15 /cm² (1ppm einer Moleküllage auf der Oberfläche). Ortsaufgelöste Analysen (chemische Abbildungen) sind bis in den Bereich > 1µm möglich.

Unser Leistungsangebot:

• Identifizierung von (organischen) Materialien und ihren Additiven, Spurenanalysen an Festkörpern und Schichten.
• Analyse von Kontaminationen auf Oberflächen (z.B. „Restschmutz“), Beurteilung von Reinigungsverfahren; quantitative Analyse von Silikonen auf Werkstoffoberflächen.
• Ursachenfindung für Verspröden oder Erweichen von Polymeren.
• Aufklärung der Zusammensetzung von Ölen, Fetten etc.
• Enthaftung von Beschichtungen
• Fügeprobleme (Kleben, Löten, Schweißen)
• Ermittlung der Ausfallursachen elektrischer Kontakte.
• Vergleichende Analyse der Edelmetalldispersion an Katalysatoren.
• Identifizierung der chemischen Verbindungen von Einzelpartikeln.
• Direkter Vergleich der Zusammensetzung von Festkörpern, Flüssigkeiten etc. eines Systems.